今年将迎来第10届耀登科技软硬件研讨会,耀登科技仪器销售部多年来专注于量DAK-TL-FullyAutomatedDielectricandMaSPEAGTDS(TimeDomainSensors) hotonicSPEAGICEy(Interference&Compatibility
2015Auden研讨会_报名简章_CN.DOCX
新世代SAR值量测设备及微型近场電磁波扫描之未來发展研討会
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第十屆新世代SAR值量测设备及微型近场電磁波掃描之未来发展研讨会
Auden & SPEAG TAIwan/China the 10thworkshop series
Optimized Measurement Solutions for SAR/OTA/EMC
今年将迎来第10屆耀登科技軟硬件研討会,耀登科技儀器销售部多年來专注于量测设备与仿真软件的销售,相关设备皆以使用者立場亲自体验, 特别展示快速量测SAR设备,欢迎旧雨新知到场指教。今年大陆区订于2015年6月3日于北京中關村皇冠假日酒店,6月5日于深圳海景奧思廷酒店,6月8日于上海中油阳光大酒店举辦「2015 SAR/OTA/EMC量测模拟暨实机体验研讨会」,会中将分享CTIA最新法規与穿戴式装置未來发展、SAR, HAC, EMC測量技術及最新测試功能,今年强势推出cDASY6及生物医學軟件sim4life。让业界能借此研讨会针对电磁量測与模拟之先进技术进行交流和经验分享,現场亦将展示相关软硬件設备并进行亲身體验,我们还准备了抽奖活动,衷心地期待您的到临和參与!
主办單位: Schmid & artner Engineering AG
Auden Techno. Corp. 耀登科技股份有限公司
【会议地点及时间】:
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Date: 3 Jun 2015 (Wednesday) 5 Jun 2015(Friday) 8Jun 2015 (Monday)
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Time: 9:00 AM ~ 16:30 PM
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Location 北京中关村皇冠假日酒店北京海淀區知春路106号(3 Jun)
深圳海景奥思廷酒店深圳南山區华侨城光僑街3-5号(5 Jun)
上海中油陽光大酒店浦东新区东方路969号(8 Jun)
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Contact information:Auden Techno. Corp. Equipment Marketing Dept.
TEL: (021) 61631930 orE-mail Ins@auden.com.tw
Ext 0 Tina Xu E-mail: Tina.Xu@auden.com.tw
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活动费用: 全程免費(提供午餐餐盒、讲义、茶點、水果)
【Workshop议程表-2015新世代SAR值量测设备及微型近場电磁波扫描之未来发展研討会】
China Workshop – 3 Jun 2015~8 Jun 2015
Time
Agenda
Speaker
09:00 - 09:20
Registration
09:20 - 09:30
Opening & Welcome Remarks
Auden & Dr. Nicolas Chavannes
09:30 - 09:45
Update on SAR, HAC & OTA Measurement Standards
Dr. Mark Douglas
09:45 - 10:10
DAK-TL - Fully Automated Dielectric and Magnetic Material Characterization Test System for Thin Layers (incl Demo)
Dr. Sven Kühn
10:10 - 10:30
Coffee Break
10:30 - 11:30
Outlook on Sim4Life V2.0 & SEMCAD Matterhorn V15.4 (Release Highlights)
Dr. Nik Chavannes
11:30 - 12:30
Selected Applications of Sim4Life V2.0 & SEMCAD Matterhorn V15.4
Aiping Yao
12:30 - 13:30
Lunch
13:30 - 13:45
EM-Phantoms - Roadmap for Body-worn/Wearable and Medical Device Testing
Dr. Sven Kühn
13:45 - 14:30
cSAR3D: Real-time SAR Assessment with Vector Technology (incl. Demo)
Dr. Mark Douglas
14:40 - 15:00
cDASY6 - DASY52 revised
Dr. Mark Douglas
15:00 - 15:20
Coffee Break
15:20 - 15:40
SPEAG TDS (Time Domain Sensors): Photonic Technologies for Absolute and Traceable Measurements in EMC/EMI Near-Field and Signal Integrity Analysis
Dr. Sven Kühn
15:40 - 16:00
SPEAG ICEy (Interference & Compatibility Evaluation System): Introducing Absolute and Traceable Measurements in EMC/EMI/SI Near-Field and Radiated Emission Analysis
Dr. Sven Kühn
16:00 - 16:15
Q & A
16:15 - 16:30
Raffles
16:30 - 16:40
Closing Remarks
※主辦单位保有更换讲师及议题之權利【报名表及报名方法】
一、eMail报名:
请填妥以下报名表,email 到Ins@auden.com.tw,有专人为您服务喔!
※注意事项: 请于22 May 2015 (星期五)前以上述报名方式回復本简章以便保留您的座位
【報名表】
公司名称
报名场次 □北京场 □深圳场 □上海场
报名編号 姓名 部门 职稱 e-mail Address 电话 移动電话
1
2
3
行业分类 (请标示*号,可复选并簡述营業項目) 通訊制造業 : 安規/认证实验室: 学校/学术單位 : 其他( ):
注 1.
主办單位提供午餐给参加全日场次报名者,请勾选午餐晕( ) 素( )
※
【因座位有限,每间客戶以三人为限,造成不便,尚祈见谅】
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【会后缴交问卷调查者赠送精美小礼物及课程电子文件数據】
【北京会场地图】
地铁: 10号線海淀黄莊店C1东南出口 460米
【深圳会场地图】
地铁:華侨城地鐵站A口,步行1分鐘到达
【上海会场地图】
地铁:6号线浦电路站4号口,270米
4号线浦电路站1号口,310米
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